Диапазон измерения | 340–1000 нм | |
Полоса светопропускания | 8 нм (во всем диапазоне) | |
Точность установки длины волны | ± 2 нм при 430 и 585 нм | |
Шкала длины волны | 1 нм (минимум) | |
Спектроскоп | дифракционная решетка с частотой 1200 линий/мм | |
Источник света | криптоновая лампа с линзой, 5 В, 1 А, долгосрочная | |
Рассеяние пучка света | менее 0,5 % коэффициента светопропускания при 340 нм | |
Диапазоны фотометрических режимов | — коэффициент светопропускания (Т) 0–200,0 % — абсорбция (А) 0,200–3,000 — концентрация (С) 0,000–2000 |
|
Методы расчета концентрации | — расчет по линейному уравнению (с 1 или 2 стандартами) — расчет по калибровочной кривой (с 3 или 4 стандартами) |
|
Режимы измерения | — обычный: 1 режим — таймерный режим: интервал измерения 1–60 с, общий предел времени 1–5940 с |
|
Дисплей | жидкокристаллический | |
Детектор | высокочувствительный кремниевый фотодиод | |
Точность фотометра | ± 2 % | |
Объем пробы | минимум 1,0 (0,5) мл | |
Тестовые емкости | — квадратные кюветы (10x10x45 мм) — квадратные полумикрокюветы (10x4х45 мм) — круглые пробирки (внутренний диаметр 10 мм, внешний диаметр 12 мм, длина 105 мм) |
|
Интерфейсы | — LPT (Centronics, D-sub 25p) — RS-232C (D-sub 9p) | |
Питание | 90–240 В AC (автонастройка), 50/60 Гц, 9 Вт | |
Предохранитель | Т 3,15 А (IEC 127) | |
Рабочая температура | 10–40 °С | |
Влажность | менее 80 % | |
Габариты | 270x285x155 мм | |
Вес | 4,0 кг (нетто) |
Товар добавлен в корзину !